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芯片測試三箱式冷熱沖擊試驗機

更新時間:2021-03-18   點擊次數(shù):1491次

一、芯片測試三箱式冷熱沖擊試驗機用途

用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具。

二、芯片測試三箱式冷熱沖擊試驗機技術(shù)參數(shù)

容量

內(nèi)箱尺寸(cm)

外形尺寸(cm)

型號

溫度范圍℃

總功率

降溫時間

升溫時間

 

27升(兩箱)

 

30×30×30

 

120×180×110

HE-LR-27S

-40~+150

18KW

-55℃

60min

 

150℃

 

30min

HE-LR-27W

-55~+150

19KW

-65℃

70min

HE-LR-27L

-65~+150

20KW

-75℃

80min

 

50升

 

36×35×40

 

156×157×144

HE-LR-50S

-40~+150

20KW

-55℃

70min

 

150℃

 

30min

HE-LR-50W

-55~+150

21KW

-65℃

80min

HE-LR-50L

-65~+150

22KW

-75℃

90min

 

80升

 

50×40×40

 

170×180×144

HE-LR-80S

-40~+150

21KW

-55℃

70min

 

150℃

 

40min

HE-LR-80W

-55~+150

22KW

-65℃

80min

HE-LR-80L

-65~+150

23KW

-75℃

90min

 

100升

 

60×40×40

 

180×180×144

HE-LR-100S

-40~+150

22KW

-55℃

80min

 

150℃

 

40min

HE-LR-100W

-55~+150

23KW

-65℃

90min

HE-LR-100L

-65~+150

25KW

-75℃

100min

150升

 

60×50×50

 

180×190×154

HE-LR-150S

-40~+150

28KW

-55℃

80min

 

150℃

 

40min

HE-LR-150W

-55~+150

35KW

-65℃

100min

HE-LR-150L

-65~+150

45KW

-75℃

100min

250升

 

70×50×50

 

190×200×164

HE-LR-250S

-40~+150

30KW

-55℃

80min

 

150℃

 

40min

HE-LR-250W

-55~+150

40KW

-65℃

110min

HE-LR-250L

-65~+150

50KW

-75℃

120min

高溫槽溫度范圍

+60℃~+200℃

溫度波動度

±2.0℃

溫度轉(zhuǎn)換時間

10S

溫度穩(wěn)定時間

3~5min(常溫~低溫度,常溫~高溫度)

內(nèi)箱材質(zhì)

SUS304鏡面不銹鋼

外箱材質(zhì)

SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理

冷凍系統(tǒng)

冷凍機組為復(fù)疊式,壓縮機(進口法國泰康或進口德國比澤爾),R404A、R23環(huán)保冷媒

冷卻方式

水冷或風冷(可選擇)

控制器系統(tǒng)

可程控彩色觸摸式溫度控制器(TEIP880S或OYO8226)

標配

測試1個,樣品架2個

使用電源

AC 三相 五線 380V 50HZ

保護裝置

無熔絲開關(guān),壓縮機過載保護,超溫保護,風機過載保護,保險絲

聯(lián)機軟件

R232、485或USB接口

 

聯(lián)


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